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产品简单介绍
TUD300超声波探伤仪
TUD300
功能特点: ● 峰值记忆功能 ● 自动增益调节 ● 快速旋钮调节,操作便捷 ● 重复发射率高达1KHZ ● 有B扫描功能 ● 10个独立探伤通道 ● 超高采样速率,射频波形细节尽现 ● 屏幕刷新频率高达60Hz,无延迟、无拖影,快速捕捉伤波 ● 整机全部软件可以通过通讯口在线升级 ● 存储300幅A扫描图形及参数和30,000个厚度值 ● 可以利用标准试块自动生成DAC曲线 ● 具有独立的双闸门设置和报警功能 ● 可以在单探头、双探头和透射三种探伤工作方式之间任意切换 ● 探头阻尼通过菜单选择在50,150,400之间切换 ● 具有线性抑制功能,可抑制屏高的0%~80%,步距:1% ● 具有屏幕的冻结和解冻功能 ● 具有系统参数的加锁和解锁功能 ● 具有存储图形的回放功能 ● 具有打印功能,通过串行打印机打印厚度报告与波形曲线 ● 能够跟PC机通讯,有功能强大的Windows数据处理软件 ● EL高亮度图形点阵显示屏,无视角限制,不受温度阳光影响 ● 大容量锂离子电池,无记忆性,连续工作时间可达8小时 ● 探头自动校准功能 ● 探头角度和K值两种输入方式 ● 缺陷当量计算 ● 具有防水功能
TR220手持式粗糙度仪(新推出产品)
TR220
TR220手持式粗糙度仪是我公司开发的一个新产品,该仪器适用于生产现场,科研实验室和工厂计量室。可测量多种机加工零件的表面粗糙度,根据选定的测量条件计算相应的参数,在液晶显示器上清晰地显示全部测量结果及图形,并可在打印机上输出,亦可与PC机进行通讯。在仪器里可以对测值进行存储及存储数据查询。
WS-4型刀口仪
WS-4型
WS-4型刀口仪在光学冷加工中用于检验球面和非球面的质量 ·测定光学零件或光学系统的像差,如球差、像散等 ·测定凹球面的曲率半径 ·检验光学材料中的缺陷,如条纹,不均匀性等 ·光学系统的检验和装配,用它检验各种非球面及大口径的球面和平面
UTG-32 涂层测厚仪
UTG-32
UTG-32涂层测厚仪是一种用电池供电的便携式测量仪器,可快速无损地测量导磁材料表面上非导磁覆盖层厚度。例如:铁和钢上的铜、锌、镉、铬镀层和油漆层等。采用单片微机技术,使仪器具有操作简单、使用方便、稳定性好、测量精度高等优点。该仪器具有数理统计功能,可直接显示测量的平均值、最大值、最小值、标准偏差及测量次数。该仪器采用电磁感应原理进行测量,符合国际标准ISO2178和国家标准GB4956。
CMI 120/140测厚仪
CMI 120/140测厚仪
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有最高的价格性能比 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □探头:配备有世界上最优秀的检测探头 □测量精度:1%或±0.1μm,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-40mils(0-1.02mm) 用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度及各种薄膜厚度的测量
CMI150测厚仪
CMI150测厚仪
涂层测厚专家,双功能技术,完成磁感应和电涡流测量自动转换。 CMI150测厚仪应用双功能测量技术,能够自动识别磁性或非磁性底材,然后采用相应的测试方式,适用于各种测量环境。CMI150可测量非磁性底材上的非导电性涂层和磁性底材上的非磁性涂层的厚度。 此款轻巧、多功能、单手操作的测厚仪,配有一个便携式配腰带弹夹的皮套,结实耐用的设计使您可以在最恶劣的环境下使用CMI150
SM-114测厚规
SM-114测厚规
品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。 测量范围:0-10mm 最小读数:0.01mm 测量深度:120mm
PIG10破坏式测厚仪
PIG10破坏式测厚仪
品牌:Micro麦可罗(合资) □价格优势:同类产品中具有最好的价格优势 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □测量范围:2-75μm 用途:广泛应用于塑胶、木材、混凝土和其他非金属材料表面漆层和类似的涂层的测量
日本得乐TLCLOCK厚度规
TLCLOCK
品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。
型超声波测厚仪
HCH-2000 C
测量范围:0.7-199.9mm(可配高温探头) Measuring range:0.7-199.9mm(with different probes) 声速范围:1000-9999m/s Velocity range:1000-9999m/s 显示精度:±0.1mm PRECISION:±0.1mm 数据存储:253个测量点 Storage:253 with date 电源:一节5#电池 Power supply:AA batteries 金属机壳·自动背光 Stainless case,auto backlight 外型尺寸:50×95×24mm Dimensions:50*95*24mm 校准值自动记忆 Automatic Calibration Recall
UTG-22 型超声波测厚仪
UTG-22
UTG-22超声波测厚仪是采用超声波脉冲反射法的原理来测量被测材料与物体的厚度。它具有携带方便、精度高、稳定性好和操作方便等优点。广泛应用于冶金、化工、造船、航空航天、电力、轻工、机械制造等领域,适用于在不损伤和不破坏材料或设备结构的情况下,测量金属或非金属材料的厚度以及运行设备中的锅炉、管道、容器、储油罐等静设备由于腐蚀、锈蚀原因造成管壁厚薄"变化"的状况。
超声波测厚仪AD-3253
AD-3253/AD-3253B
超声波测厚仪AD-3253/日本A&D公司AD-3253/3253B超声波测厚仪利用超声脉冲发射原理,用于金属、塑料等不同材料的厚度测量和腐蚀检查。* 操作简单* 大型液晶数显,显示厚度值和声速* 能测定不同材料声速,并能存储声速* 设计精密,体积小、重量轻* 低电指示* 英制/公制互换* 自动关机
MP20德国菲希尔涂层测厚仪
MP20德国菲希尔 FISCHER
MP20德国菲希尔涂层测厚仪详细说明: 该仪器为德国生产。集合了磁性测厚仪和涡流测厚仪器的2种功能,可用于测量:铜、铝、镁、锌等非铁金属材料上的涂层厚度。铝、镁材料上阳极氧化膜的厚度。符合国家标准GB/T4956和GB/T4957,可用于生产检验、验收检验及质量监督检验。该仪器采用双功能内置式探头,无需更换探头,可自动识别铁基或非铁基体材料,并选择相应的测量方式进行精确测量。
CMI 200系列CMI 243膜厚仪
CMI 243
CMI 243是一款专门为测量磁性金属上的(如锌、镍等)涂镀层厚度而设计的便携式膜厚仪。独特的涡电流测试方法使测量更精确。高端配置的测量探头对细小的零件也可以精确测量。它具有X射线荧光的测量精度,同时也避免了库仑法对被测工件带来的破坏。CMI 243在设计上更加合理、可靠、实用。
CMI 200系列CMI 233测厚仪
CMI 200系列CMI 233
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有很高的价格性能比 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □探头:配备有世界上最优秀的检测探头 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) 用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度及各种薄膜厚度的测量
CMI 700测厚仪
CMI 700
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □适用范围广:适用所有基材和各种表层的厚度测量,没有任何其它型号能与CMI700的适用范围相比 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm)
CMI900系列X射线荧光测厚仪
CMI900 OXFORD CMI(英国牛津)
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □适用范围:CMI900系列X射线荧光测厚仪是一种功能强大的材料涂/镀层测量仪器,可应用于材料的涂/镀层厚度、材料组成、贵金属含量检测等,涉及到其它仪器不能检测的测试领域。 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □测量精度:1%或±0.1μm依照参考标准片,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-60mils(0-1.52mm) 用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度的测量
SM-112测厚规
SM-112
品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量。 测量范围:0-10mm 最小读数:0.01mm 测量深度:26mm
SM-114测厚规
SM-114
品牌:TECLOCK(日本得乐) 用于纺织布料、薄膜、纸张等物品的厚度测量,加长型测臂具有更大的测量深度。 测量范围:0-10mm 最小读数:0.01mm 测量深度:120mm
CMI 120/140测厚仪
CMI 120/140
品牌:OXFORD CMI(英国牛津) 简介: □性价比优势:同类进口产品中具有最高的价格性能比 □服务优势:具有最多的服务网点和强大的技术支持 □探头:配备有世界上最优秀的检测探头 □测量精度:1%或±0.1μm,分辨率:0.01mils(0.25μm) □测量范围:磁感应0-120mils(0-3.05mm);涡流0-40mils(0-1.02mm) 用途:广泛应用于喷涂电镀等表层厚度及各种薄膜厚度的测量
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